單光子顯微鏡
單光子顯微鏡-固體缺陷、量子點、單分子
為了實現(xiàn)固體缺陷、量子點或單個分子的單光子成像,您需要花費多少時間編寫代碼、采集信號和分析數(shù)據(jù)?您是否希望擁有一臺設(shè)備,可以捕獲實驗設(shè)置中的所有信號并通過操作簡便的軟件分析處理?
Time Tagger系列不僅可以捕獲實驗中所有單光子信號,還可捕獲實驗設(shè)置中所有其他信號,如來自微波源、快速開關(guān)、脈沖模式發(fā)生器、壓電掃描儀的觸發(fā)信號。它讓您可以利用單一硬件設(shè)備和簡單的幾行代碼,就能輕松實現(xiàn)量子光學(xué)實驗的整個數(shù)據(jù)采集。
下圖展示的是一個圍繞Time Tagger 20搭建的多功能可擴(kuò)展掃描熒光顯微成像系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅可用于測量光子的反聚束和熒光壽命,還可直接用來實現(xiàn)共聚焦顯微成像、電子自旋共振掃描、脈沖電子自旋共振以及這些實驗技術(shù)的任意組合。而且這一系統(tǒng)還可以被輕松擴(kuò)展以實現(xiàn)STED、PALM/STORM等超分辨率熒光顯微成像。這種單光子顯微成像系統(tǒng)已被廣泛用于金剛石和碳化硅中的缺陷研究,用戶來自斯圖加特大學(xué)、慕尼黑大學(xué)、牛津大學(xué)和麻省理工學(xué)院等多家知名研究機(jī)構(gòu)。
只需一臺Time Tagger,即可輕松收集所有信號、將您的實驗想法變成現(xiàn)實。